Signalintegrität, Power Integrity, EMV

Der CR-8000 umfasst integrierte Simulations- und Analysetools, mit denen alle Aspekte von Single oder Multi-Board Designs überprüfen können
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CR-8000 - Eine umfassende Simulations- und Analyseumgebung

CR-8000 bietet eine komplette Designumgebung, die vollständig integrierte Simulations- und Analysetools für EMV, Power-, und Signalintegrität zur Verifizierung Ihrer Single oder Multi-Board Designs enthält.

Während des Schaltungsentwurfs bietet Design Gateway integrierte PCB Simulation, Analyse und Überprüfung von Design Regeln

Während des PCB-Layouts bietet Design Force integrierte Kontrollen für Signalintegrität, Spannungsintegrität und elektromagnetische Störungen

Tools für die Analyse der elektromagnetischen Verträglichkeit bieten eine einheitliche Umgebung für alle Simulations- und Analyseanforderungen Ihres Konstruktionsteams

Signalintegrität

Topologieplanung

  • Constraining und Topologieplanung in der Pre-Layout-Phase
  • Impedanzplanung mit integriertem Feldsolver

SI Analyse

  • Schnelle interaktive Zeitbereichssimulation für präzise Zeit-, Reflexions- und Übersprechanalysen
  • Berücksichtigung von IBIS-Puffermodellen
  • Verwendung von SPICE- und S-Parameter-basierten Modellen im Zeitbereich
  • Überprüfung der Ergebnisse von automatischen Timing-, Cross-Talk und Singalintegrität-Messungen
  • Optimierung der Topologie durch den Einsatz von Parameter-Sweeps
  • Auswertung von Übersprechern in gekoppelten Topologien und Szenarien
  • Untersuchung der Auswirkungen von Fertigungstoleranzen und Materialeigenschaften auf das Verhalten der Signalintegrität
  • Umfassende Modellverwaltung der Simulationsbibliothek

Augendiagramm Analyse

  • Augendiagramm Analysen im Zeitbereich für parallele Busse und serielle Verbindungen
  • Überprüfung von Setup- und des Hold-Zeiten
  • Definition von Augendiagramm-Masken und Messung der Abweichungen

TDR Analyse

  • Zeitbereichsreflektometrie zur Optimierung von Verbindungen
  • TDR Analyse mit verschiedenen Geschwindigkeitsstufen
  • Überprüfung der TDR Impedanzen für Einzelverbindungen und differentielle Paareverbindungen
  • Berücksichtigung von Feed-in/Out-Verbindungen

S-Parameter Analyse

  • Breitband-S-Parameterberechnung zur Verbindungsoptimierung bis 15 GHz
  • Prüfung von Mixed-Mode S-Parametern
  • Export von S-Parametern in Touchstone-Dateien
  • Erzwingen der Kausalität wo nötig

IBIS AMI Analyse

  • AMI-Simulation zur Gigabit-SERDES-Kanaloptimierung
  • Charakterisierung serieller Verbindungen (S-Parameter, Übertragungsfunktion, Impulsantwort)
  • Betrachtung verschiedener Arten von Jitter (TX und RX)
  • Einfach zu bedienende Parametrierung von AMI-Modellen
  • Untersuchung von Wellenformen im Zeitbereich
  • Visualisieren Sie Augenmuster und Badewannenkurven.
  • Messen der Öffnung von Eye-Patterns
  • Berechnung von Bitfehlerraten (BER)

Power Integrity und EMV Analyse

EMV Analyse

  • Schnelle und effiziente EMV Analyse des gesamten Boards zur Identifizierung wichtiger EMV-Quellen.
  • Bewertung von Gleichtakt- und Differenzmodusemissionen
  • Visualisierung von I/O-Crosstalk-Bereichen
  • Berücksichtigung verschiedener Antenneneffekte

Power Integrity Analyse (AC)

  • Breitband-PI-Analyse von Versorgungssystemen bis 15 GHz
  • Erkennung und Visualisierung von Bereichen mit hoher AC-Impedanz in Versorgungssystemen, Untersuchung der Grundursachen von Resonanzen
  • Bewertung der Decap-Effizienz und der Montageinduktivitäten, Visualisierung der Decap-Impedanzen
  • Definition virtueller Decaps für What-If-Szenarien
  • Optimierung der Entkopplungsstrategien, Identifizierung von überdimensionierten Entkopplungen

Power Integrity Analyse (DC)

  • DC-Analyse von Versorgungsnetzen zur Identifizierung von Spannungseinbrüchen und Hochstromlastbereichen
  • Visualisierung der Gleichstrom- und Spannungsverteilung
  • Identifikation unzureichender Versorgungsspannungen an IC-Power-Pins
  • Identifikation von belasteten Vias bei hoher Gleichstrombelastung
  • Extrahieren von DC-Widerständen zwischen den Power-Pins
  • Vorgabe von alternativen Spannungsquellen für What-if-Analysen

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